Запрос на характеристику: 9111.ru — страница не найдена

Как написать запрос на характеристику с места работы

Характеристика для суда с места работы: ее особенности и нюансы составления

Внешние — это те характеристики, которые предоставляются в другие организации или государственные органы. Составляя такой документ, необходимо уточнить у работника цель запроса документа, от этого будет зависеть стиль характеристики и форма изложения. Внутренние характеристики применяются, например, при переводе сотрудника в другой отдел или в другое подразделение, на повышение в пределах организации, где он трудится.

В таком документе обязательно нужно сделать акцент именно на деловых качествах и рабочих навыках сотрудника. В некоторых случаях кадровый специалист может попросить подготовить документ для сотрудника его непосредственного начальника, предварительно дав ему образец, как написать характеристику на работника. Это допустимо и даже правильно, особенно если в отделе кадров работает новый человек, который мало знаком со всеми работниками, или коллектив настолько большой, что кадровику сложно оценивать качества того или иного человека.

Отметим, что работодатель не обязан согласовывать текст характеристики с работником, которому она нужна. Но если тот не согласен с содержанием, то может оспорить документ в судебном порядке. Пример характеристики с места работы: общие требования В действующем российском законодательстве отсутствует какой-либо шаблон для составления такого документа.

Тем не менее общие правила все-таки существуют. Характеристика должна быть выдана на официальном бланке организации. Если такой не утвержден внутренним распорядком предприятия, то в любом случае в бланке указываются полные реквизиты, особенно если характеристика с места работы предоставляется по официальному требованию какого-то учреждения. Так, в данном документе должны быть указаны: Персональные данные, которые включают в себя Ф.

Сведения о работе. Данный раздел содержит информацию о стаже работы, о времени принятия, о кадровых перемещениях в пределах данной организации, сведения о трудовых достижениях и профессиональных навыках лица. Если работник в процессе работы направлялся на обучение, повышение квалификации и т.

Также в данном разделе указываются сведения о наличии у работника различных заслуг благодарность, поощрение и т. Личностные характеристики. Данная информация, наверное, является самой важной частью всей характеристики. Она может содержать различные сведения, касающиеся личных качеств лица. Если работник является руководителем подразделения, то стоит отметить его организаторские качества, наличие или отсутствие ответственности за подчиненных, степень готовности к принятию сложных решений, требовательность к себе и подчиненным, другие качества.

Если же работник является исполнителем, то можно указать степень его готовности выполнять поручения руководителя, инициативность, стремление к отличным результатам и т. Также в данном разделе можно указать на взаимоотношения лица с трудовым коллективом: пользуется ли он авторитетом и уважением или отношения в коллективе не складываются в связи со сложным характером или иными особенностями сотрудника.

Поскольку это официальный документ, необходимо, чтобы он был подписан руководителем организации. Обязательны подпись и печать, если она есть в компании. Важно не забыть поставить дату составления. Материалы по теме Еще один практический совет: характеристику будет легче использовать, если вся информация поместится на одном листе. Образец характеристики с места работы на рабочего: о чем писать Главное требование к документу, конечно, — объективность. В итоге общее описание должно создать образ характеризуемого и помочь сформировать правильное мнение.

При этом содержание может меняться в зависимости от того, для кого он готовится. Если работник намерен пойти в органы опеки с целью усыновления, в характеристике нужно особо отметить его личностные качества, например, упомянуть доброжелательность, заботливость, хорошие манеры. Для суда нужны подробности о том, насколько человек честный, как относится к своим обязанностям, какие отношения у него сложились с коллегами.

Но есть и другой, приятный повод подготовить характеристику — награждение государственными наградами Российской Федерации. В этом случае кадровым специалистам следует руководствоваться рекомендациями из Письма Администрации Президента РФ от В Письме содержатся методические рекомендации относительно оформления документов о награждении.

В нем, в частности, сказано, что сведения должны помочь оценить вклад награждаемого, при этом важно упомянуть квалификацию, личные качества, высокие заслуги работника, оценку эффективности его деятельности. Прямо запрещено перечислять трудовые функции, послужной список или описывать жизненный путь специалиста.

Образец такой характеристики можно скачать в приложениях к статье. Примеры положительной характеристики с места работы 1.

В суд с последнего места работы

Возникают различные ситуации, когда людям необходимо участвовать в судебных процессах. В этих случаях требуется предоставить характеристику с последнего места работы. Многое определяет вид процесса — уголовный или гражданский. Для каждого существуют свои нюансы описания сотрудника с акцентированием определенных качеств.

Гражданский судебный процесс будет рассматривать выполнение трудовых обязанностей, перспективного карьерного продвижения, стабильность трудоустройства. При усыновлении истцу или ответчику желательно предоставить документ, в котором описаны положительные качества и финансовая обеспеченность.

Структура характеристики в суд представлена такими разделами:

• дата и место составления;
• ФИО, должность, дата рождения;
• стад работы с последнего места работы;
• семейное положение и состав семьи;
• образование, курсы, навыки;
• реквизиты и наименование компании;
• описание вида деятельности, которым занимается сотрудник;
• служба в армии;
• достижения, поощрения, награды.

Характеристика заверяется руководителем или начальником отдела кадров. Важные формулировки — платежеспособность и уровень заработной платы, уровень профессионализма, деловой потенциал, отношения с коллегами и ответственность.

Положительная характеристика с места работы: обязан ли работодатель ее выдавать

Характеристика — это документ, в котором работодатель дает оценку личностным и профессиональным качествам сотрудника. Некоторые могут посчитать, что такая бумага — пережиток прошлого, но если в отдел кадров или к руководству организации поступил письменный запрос о ее предоставлении, работнику нельзя отказать. С учетом ст. 62 ТК РФ, готовая характеристика с места работы отдается в течение трех рабочих дней со дня обращения. Эта норма распространяется не только на тех подчиненных, которые числятся в компании в настоящий момент, но и на тех, с кем трудовые отношения уже расторгнуты (см., например, Определение Московского городского суда от 08.09.2011 по делу № 33-28750).

Рекомендацию может запросить не только сам работник, но и государственные органы. Зачем она может понадобиться?

Вот лишь небольшой список ситуаций, когда ее могут попросить:

• при трудоустройстве на новую должность;
• при оформлении кредита; при обращении в органы опеки;
• для представления в учебное заведение;
• при награждении премией, государственной наградой;
• для суда.

В некоторых случаях кадровый специалист может попросить подготовить документ для сотрудника его непосредственного начальника, предварительно дав ему образец, как написать характеристику на работника. Это допустимо и даже правильно, особенно если в отделе кадров работает новый человек, который мало знаком со всеми работниками, или коллектив настолько большой, что кадровику сложно оценивать качества того или иного человека.

Отметим, что работодатель не обязан согласовывать текст характеристики с работником, которому она нужна. Но если он не согласен с содержанием, то может оспорить документ в гражданско-правовом порядке.

Важный недостаток характеристики с места работы

Некоторые работодатели считают документ формальностью и используют при заполнении общие, размытые формулировки. Поэтому важно оформить бланк так, чтобы ответы максимально подробно описывали качества работника.

В какой форме запросить характеристику сотрудника с последнего места работы?

Muna [e-mail скрыт] Беларусь, Минск

Скорпион писал(а): Это или большой опыт или иногда врожденный дар — искусство получить сведения бесплатно посредством умения расположить собеседника к себе и склонения его к добровольному сотрудничеству. Во как завернуто! Один из вариантов: попадаете на своего коллегу по цеху, сначала говорите о себе, о своих проблемах, о профессиональной поддержке, о собственной неопытности, о том, что без ее совета может произойти большая ошибка (вас накажут и т.п.) (но не большим диалогом — двумя -тремя предложениями), говорите, что только на нее надежда и просите устно охарактеризовать этих людей. Если пожалеет, то большая вероятность, что получите информацию. Устно люди говорят намного больше, чем доверяют бумаге. Думаю, так сильно изощряться не стоит, достаточно просто сказать, что хотите взять человека на ответственную работу, поэтому не хотели бы в нем ошибиться или разочароваться. А дальше уже про человека, о котором идет речь, можно судить по ответу. Я бы выделила 3 основных линии ответов: 1. Человека не задумываясь характеризуют положительно (значит человек хорошо работал и пользовался уважением в коллективе). 2. Не могут открыто похвалить, но и не могут сказать ничего плохого, пытаются оправдать его промахи (значит как специалист он так себе, но хороший человек). 3. Либо советуют не завязывать трудовые отношения с таким человеком, либо вообще отказываются давать какую-либо оценку этому человеку (значит человек мало того, что не проявил себя как специалист, так еще и оказался конфликтным). Бывают конечно исключительные случаи, когда хороший специалист с замечательными личностными качествами не находит понимания в коллективе или с руководством, но думаю такие случаи — большая редкость.

Запрос характеристики на ребенка в школу

Я попечитель 15 летней девушки, она беременна от 19 летнего парня сейчас срок 23 недели, узнали об этом 2 нед. назад. Я написала заявление в следственный комитет по факту растения малолетней. Следствие идёт. Опека в курсе, меня поддерживают, подопечная и я хотели, чтобы до родов всё было тайно. А когда будет видно, то чтобы это было известно в узком кругу. Мы живём в собственном доме, у нас большая ограда, поэтому могло бы быть всё без широкой огласки. Опека предложила перевести девочку на индивидуальное или семейное обучение, я согласилась. Девочка пока находится в больнице на обследовании, в школу я сообщила о том, что она в больнице, но причину пока по понятным причинам я не озвучила. Но вчера я узнала по слуху, что информация начала распространяться. Сначало на совещании, в школе в которой я работаю, (не в которой учится девочка) было озвучено, что я на суде, хотя я была на допросе, об этом устно поставила администрацию в известность, без подробностей и ввода в курс дела. — Позже администрация моей школы озвучила в учительской, что моя подопечная беременна, меня при этом не было, мне это передали. Сегодня я звонила директору, где учится девочка, спросила, знают ли что-либо в школе о моей подопечной. Мне сказала директор, всю конфиденциальную информацию о ней, и о том, что знают ещё 3 учителя. Директору об этом сообщил следователь, когда запрашивал характеристику о ней. Кроме этого директор школы, где учится девочка, звонила в школу, где работаю я, для личного разговора, в котором по всей видимости она и сообщила. Мне она сказала, что в том, что эта информация стала известной в широком круге она не видит ничего страшного. Кроме этого УЗИ девочке делала медик, мать которой является завучем школы, в которой я работаю. Откуда информация стала известной широкому кругу я не знаю, но моя подопечная очень переживает по этому поводу, и я этому очень не рада. Вопросы: 1.- Имела ли они право доносить информацию до всех педагогов о моём местонахождении? 2. — Могу ли я написать заявление в прокуратуру по распространению конфиденциальной информации и какие шансы наказать тех, кто в этом виноват? 3.- Имел ли право следователь сообщать директору причину запроса характеристики? ПОЖАЛУЙСТА дайте конкретные ответы на мои вопросы. А то оплатила этот же вопрос, а в ответ получила одну демогогию.

Показать полностью

11 апреля, 16:17, вопрос №3025579, Анна, г. Иркутск

Запрос характеристики на осужденного — Правовед.RU

Я попечитель 15 летней девушки, она беременна от 19 летнего парня сейчас срок 23 недели, узнали об этом 2 нед. назад. Я написала заявление в следственный комитет по факту растения малолетней. Следствие идёт. Опека в курсе, меня поддерживают, подопечная и я хотели, чтобы до родов всё было тайно. А когда будет видно, то чтобы это было известно в узком кругу. Мы живём в собственном доме, у нас большая ограда, поэтому могло бы быть всё без широкой огласки. Опека предложила перевести девочку на индивидуальное или семейное обучение, я согласилась. Девочка пока находится в больнице на обследовании, в школу я сообщила о том, что она в больнице, но причину пока по понятным причинам я не озвучила. Но вчера я узнала по слуху, что информация начала распространяться. Сначало на совещании, в школе в которой я работаю, (не в которой учится девочка) было озвучено, что я на суде, хотя я была на допросе, об этом устно поставила администрацию в известность, без подробностей и ввода в курс дела. — Позже администрация моей школы озвучила в учительской, что моя подопечная беременна, меня при этом не было, мне это передали. Сегодня я звонила директору, где учится девочка, спросила, знают ли что-либо в школе о моей подопечной. Мне сказала директор, всю конфиденциальную информацию о ней, и о том, что знают ещё 3 учителя. Директору об этом сообщил следователь, когда запрашивал характеристику о ней. Кроме этого директор школы, где учится девочка, звонила в школу, где работаю я, для личного разговора, в котором по всей видимости она и сообщила. Мне она сказала, что в том, что эта информация стала известной в широком круге она не видит ничего страшного. Кроме этого УЗИ девочке делала медик, мать которой является завучем школы, в которой я работаю. Откуда информация стала известной широкому кругу я не знаю, но моя подопечная очень переживает по этому поводу, и я этому очень не рада. Вопросы: 1.- Имела ли они право доносить информацию до всех педагогов о моём местонахождении? 2. — Могу ли я написать заявление в прокуратуру по распространению конфиденциальной информации и какие шансы наказать тех, кто в этом виноват? 3.- Имел ли право следователь сообщать директору причину запроса характеристики? ПОЖАЛУЙСТА дайте конкретные ответы на мои вопросы. А то оплатила этот же вопрос, а в ответ получила одну демогогию.

Показать полностью

11 апреля, 16:17, вопрос №3025579, Анна, г. Иркутск

Запрос участковому на характеристику образец

ВУЗы необходимы образцы характеристик на. Как составить характеристику на студента с места учебы образец? Пример отрицательной характеристики с места жительства от участкового скачать Размер 27. В соответствии со ст. Участковый инспектор готовит характеристику по требованию либо на основании письменного запроса. Вам что бумага от участкового может пригодиться, хотя такой запрос может. Участковый инспектор полиции. Закон не содержит разъяснений по Вашему вопросу, это, если мотивировано. УУП ДОЛЖНЫ всех знать на районе, просто посторонним лицам они. Адвокатский запрос образец. ЖЭКа можно приложить копии паспортов подписавшихся. Рапортхарактеристику на гражданина УУП предоставляют по запросу правоохранительных органов, судов и адвокатов. Мне нужен образец характеристики от участкового.Но прежде, если участковый отказался помогать, необходимо потребовать от него письменного уведомления. Текст заявления участковому на соседей. Итак, если вам требуется образец характеристики с места жительства, то приведенный выше пример можно использовать как. Примерные образцы характеристик от соседей и участкового в суд. Нужна характеристика от участкового, участковый хочет официальный запрос, но никакого запроса по месту. Заявление участковому на шумных соседей, образец которого можно посмотреть ниже либо взять в отделе полиции, нужно подавать в двух экземплярах, чтобы. Образец написания характеристики от соседей можно использовать для. Дела, связанные с необходимостью получения разрешения от участкового на ношения, использование или хранение. Зачастую участковый попросту не может дать информацию по тому или иному лицу, проживающему на. Характеристика от участкового инспектора полиции милиции. Положительная характеристика на подзащитного от участкового был образцом законопослушного гражданина и примером для окружающих. Если характеристика дается участковым, председателем ТСЖ, она заверяется их печатью. Образец заявления участковому на шумных соседей как составить и написать жалобу. Образец формы характеристики на сотрудника. Письмозапрос образец оформления в формате. Образец заявления участковому на соседей. Как написать бытовую характеристику на человека. Чаще всего такую характеристику составляют соседи по. Служба безопасности не дат запрос, так как человек ещ не оформлен официально и. Медсестра надом и комне можно приехать медсестра широкого профиля. Образец адвокатского запроса на получение характеристики в отношении подзащитного. Характеристика на работника это документ. Прописать домашнюю. Жалоба участковому на соседа пишется в произвольной форме, затем регистрируется у дежурного, который. Если Вы все же решили его составить самостоятельно, то Вы можете обратится к нашим юристам, что бы они могли. Отмечаюсь с условным сроком в УИНе, дали направление на характеристику от участкового, сказали до конца сентября. Потом участковый должен черкнуть что не привлекался и Т. Пропищите ниже по центру листа название документа жалоба на участкового ФИО. Образец бытовой характеристики с места. При отсутствии образца, бытовую характеристику можно написать самостоятельно. Запрос характеристики образец начальнику жилищной конторы. Нужен образец характеристики с места учебы Нужен образец характеристики с места учебы Участковые НЕ отвечают на какие то запросы с места работы. Соловках будущего духа Архипелага, чтоб у тебя бытовой характеристики от участкового образец

» frameborder=»0″ allowfullscreen>
Образец характеристики с места жительства скачать Размер 32. Как должна выглядеть характеристика с места жительства? Специалист знает, как надо действовать, если характеристика соседей противоречит закону или ущемляет гражданские. Образец заявления участковому скачать. Если был адвокатский запрос, то характеристика на вас.

Образец запроса о выдаче характеристики на работника для трудоустройства

Характеристика с места работы

Характеристика с места работы

Пример характеристики с места работы

Общество с ограниченной ответственностью «Новейшие Электронные Технологии»

ИНН 364616841365 ОГРН 3546516546 юр. адрес: 394054, г. Воронеж, ул. Кольцовская, 49

11 марта 2019 г. г. Воронеж

Характеристика

Семейное положение: женат, 2 детей.

Настоящая характеристика выдана для предъявления по месту требования.

Генеральный директор ООО «Новейшие Электронные Технологии»

Когда используется характеристика с места работы

Содержание производственной характеристики

Образец характеристики на работника с места работы: зачем нужна и как правильно составить

Положительная характеристика с места работы: обязан ли работодатель ее выдавать

В зависимости от места, куда адресуется данный документ, выбираются акценты и формулировки качеств работника.

Разновидности характеристик

Пример характеристики с места работы: общие требования

Так, в данном документе должны быть указаны:

Еще один практический совет: характеристику будет легче использовать, если вся информация поместится на одном листе.

Образец характеристики с места работы на рабочего: о чем писать

Образец такой характеристики можно скачать в приложениях к статье.

Примеры положительной характеристики с места работы

(на бланке организации)

«______» _______________ 20___

(Фамилия, имя, отчество, дата рождения, должность)

Должность И.О. Фамилия Подпись

«______» _______________ 20___

(наименование организации и ее реквизиты)

c «______» _______________ 20___ по настоящее время в должности _________________.

Имеет высшее образование по специальности _____________________________________.

Семейное положение: ______________________________________________.

(указать наличие супруг(-а/-и) и детей)

Данный работник является достойным профессионалом. Дисциплинарным взысканиям никогда не подвергался.

Данная характеристика выдана для предоставления в ___________________.

Должность И.О. Фамилия Подпись

Пример отрицательной характеристики

Петровой Ольги Ивановны, 08.03.1984 года рождения.

Профессиональные навыки Петровой О.И. невысоки. Возможности для повышения профессионального потенциала отсутствуют.

Начальник отдела продаж

Чего не должно быть в документе

Шаблоны для использования

Образец запроса о выдаче характеристики на работника для трудоустройства

Related Articles

Что делать если истцу не выдали в суде исполнительный лист

Должностная инструкция ответственного по смк

Кто освобождается от уплаты налога на недвижимость в 2019 году

Справка с места работы — бланк и образец заполнения

Образец характеристики на работника с места работы

Во-вторых, в нем должны быть указаны:

Образец положительной характеристики с места работы

Характеристика с места работы — образец

Например: личностные качества сотрудника выражаются во взаимоотношениях с трудовым коллективом, в общекультурном уровне и т.

Как правильно написать характеристику сотруднику с места работы

• оценивая работоспособность сотрудника, следует учитывать его активность при выполнении работы, способность организовать производственный процесс, качество и своевременность выполнения работ, поведение в сложных или стрессовых ситуациях, эффективность принимаемых им решений, способность брать на себя ответственность.
• Заключение. Этот пункт нужно указывать только во внешних характеристиках.

В заключении указывают цель составления характеристики.

Характеристика на сотрудника с места работы – как ее правильно составить?

• — указывают прохождение курсов повышения квалификации, профессиональные тренинги, обучения.

Третья часть – личная характеристика В ней расписываем

Как написать характеристику на работника

Характеристика по месту жительства обычно содержит такую информацию:

Запрос характеристики с предыдущего места работы образец

Как написать заявление, чтобы взять характеристику с бывшего места работы?

Самое главное в подобного рода обращениях донести до бывшего работодателя, что именно вы хотите и для чего вам это нужно.

Заявление пишется в свободной форме.

19 Марта 2019, 07:29 Уважаемая Ксения, здравствуйте!

Иванова (после смены фамилии по замужеству — Петрова) 20 Марта 2019, 05:49

Характеристика с места работы (образцы и примеры составления)

Необходимо отметить трудовые достижения и профессиональные навыки лица.

Если работник в процессе работы направлялся на обучение, повышение квалификации и т.

д., то об этом также стоит указать в характеристике.

При наличии у работника различных заслуг (благодарность, поощрение и т.

Образец положительной характеристики с места работы

Например, государственный орган делает работодателю запрос, и он должен выдать соответствующую справку.

Вход на сайт

Что даст вам характеристика?

Характеристика с места работы при устройстве на новую должность

Там уже все индивидуально, огромный простор для творчества.

Важно указать, кто писал характеристику, все реквизиты компании.

Образец характеристики с места работы

Запрос характеристики с предыдущего места работы образец

Необходимо отметить трудовые достижения и профессиональные навыки лица.

Образец характеристики на работника с места работы

От целей ее создания будет зависеть содержание — поэтому рассмотрим различные варианты, часто встречающиеся на практике.

Однако возможно, что в вашей компании особо приветствуется: преданность делу, лояльность компании и ее руководителям;

Образец характеристики на работника с места работы: зачем нужна и как правильно составить

Зачем она может понадобиться? Вот лишь небольшой список ситуаций, когда ее могут попросить:

[ Вопрос дня ] Как заполнить вкладку “Характеристики” конструктора запроса для вывода в отчет на СКД дополнительных свойств объектов?

Доброго дня, коллеги!

Умеете ли вы работать с вкладкой Характеристики конструктора запросов в СКД? Если нет, то следующий разбор вопроса для вас. Тренер на простом примере продемонстрирует, как в отчете на СКД легко добавить возможность использования дополнительных свойств объектов. При этом ни один ПВХ задействован не будет))

Вопрос

Вроде все понятно в теории, а на практике не получается вывести в отчете дополнительные сведения. Помогите мне на моем примере, пожалуйста.

Пример: есть документы, где физ. лицам производят определенные начисления. У каждого физ. лица есть свой внутренний идентификатор (ИД), который не является реквизитом справочника физ. лица. Значение ИД хранится в регистре сведений “ИД физ. лиц”. Нужно в отчет вывести данные о начислениях документов за период и отдельной колонкой этот ИД. Не понимаю, как на вкладке Характеристики конструктора запроса в СКД задать эту связь.

Ответ

Добрый день!

Создаем пустую базу, добавляем в конфигураторе справочник Физлица и независимый непериодический регистр сведений ИдентификаторыФизлиц следующей структуры:

В пользовательском режиме создаем элемент справочника, заполняем идентификатор в регистре:

В конструкторе схемы компоновки на закладке Характеристики выполняем следующие настройки:

(нажмите, чтобы увеличить картинку)

Обратите внимание, что ни одного ПВХ в базе нет.

Настройки выполняем именно таким образом:

1. В колонке Тип указываем, для какого объекта настраиваем характеристики – это справочник Физлица.
2. Поскольку в базе нет объекта (таблицы), где хранится перечень используемых видов характеристик (например, ПВХ), то в качестве источника видов характеристик используем запрос. В качестве ключа и имени вида характеристики указываем строку “Идентификатор физлица”. Значит, в пользовательском режиме, когда развернем список вложенных полей для физлица, будет доступно новое поле “Идентификатор физлица”.
3. Поскольку в регистре сведений ИдентификаторыФизлиц нет поля, где хранится вид характеристики, тоже используем запрос, в котором строкой пропишем имя вида характеристики – “Идентификатор физлица”.

Поле объекта – это измерение регистра сведений “Физлицо”, так как именно в нем содержится поле нужного типа (п. 1), для которого получаем значения свойства.

Поле вида – это ключ вида характеристики (строка “Идентификатор физлица”), так как в регистре нет отдельного поля для хранения вида характеристики. Здесь должно быть указано то же значение, что и в “Поле ключа”. Так связывается вид характеристики и значение характеристики.

Поле значения – это ресурс регистра сведений “ИдентификаторФизлица”, поскольку именно в нем хранится значение характеристики – сам идентификатор.

После таких настроек в отчете можно вывести вложенное поле “Идентификатор физлица”:

Безопасность | Стеклянная дверь

Мы получаем подозрительную активность от вас или кого-то, кто пользуется вашей интернет-сетью. Подождите, пока мы подтвердим, что вы настоящий человек. Ваш контент появится в ближайшее время. Если вы продолжаете видеть это сообщение, напишите нам чтобы сообщить нам, что у вас возникли проблемы.

Nous aider à garder Glassdoor sécurisée

Nous avons reçu des activités suspectes venant de quelqu’un utilisant votre réseau internet. Подвеска Veuillez Patient que nous vérifions que vous êtes une vraie personne.Вотре содержание apparaîtra bientôt. Si vous continuez à voir ce message, veuillez envoyer un электронная почта à pour nous informer du désagrément.

Unterstützen Sie uns beim Schutz von Glassdoor

Wir haben einige verdächtige Aktivitäten von Ihnen oder von jemandem, der in ihrem Интернет-Netzwerk angemeldet ist, festgestellt. Bitte warten Sie, während wir überprüfen, ob Sie ein Mensch und kein Bot sind. Ihr Inhalt wird в Kürze angezeigt. Wenn Sie weiterhin diese Meldung erhalten, informieren Sie uns darüber bitte по электронной почте: .

We hebben verdachte activiteiten waargenomen op Glassdoor van iemand of iemand die uw internet netwerk deelt. Een momentje geduld totdat, мы узнали, что u daadwerkelijk een persoon bent. Uw bijdrage zal spoedig te zien zijn. Als u deze melding blijft zien, электронная почта: om ons te laten weten dat uw проблема zich nog steeds voordoet.

Hemos estado detectando actividad sospechosa tuya o de alguien con quien compare tu red de Internet. Эспера mientras verificamos que eres una persona real.Tu contenido se mostrará en breve. Si Continúas recibiendo este mensaje, envía un correo electrónico a para informarnos de que tienes problemas.

Hemos estado percibiendo actividad sospechosa de ti o de alguien con quien compare tu red de Internet. Эспера mientras verificamos que eres una persona real. Tu contenido se mostrará en breve. Si Continúas recibiendo este mensaje, envía un correo electrónico a para hacernos saber que estás teniendo problemas.

Temos Recebido algumas atividades suspeitas de voiceê ou de alguém que esteja usando a mesma rede.Aguarde enquanto confirmamos que Você é Uma Pessoa de Verdade. Сеу контексто апаресера эм бреве. Caso продолжить Recebendo esta mensagem, envie um email para пункт нет informar sobre o проблема.

Abbiamo notato alcune attività sospette da parte tua o di una persona che condivide la tua rete Internet. Attendi mentre verifichiamo Che sei una persona reale. Il tuo contenuto verrà visualizzato a breve. Secontini visualizzare questo messaggio, invia un’e-mail all’indirizzo per informarci del проблема.

Пожалуйста, включите куки и перезагрузите страницу.

Это автоматический процесс. Ваш браузер в ближайшее время перенаправит вас на запрошенный контент.

Подождите до 5 секунд…

Перенаправление…

Заводское обозначение: CF-102 / 688f4f624de3737f.

Тестирование характеристик отходов | Eurofins TestAmerica Laboratories

Поддержка исследования отходов Eurofins TestAmerica

Закон о сохранении и восстановлении ресурсов (RCRA) требует, чтобы любое предприятие, производящее или производящее отходы, определяло, являются ли эти отходы опасными.Одним из четырех критериев определения того, являются ли отходы опасными, является то, обладают ли отходы характеристиками опасных отходов. Четыре характеристики опасных отходов: воспламеняемость, коррозионная активность, реакционная способность и токсичность. Для измерения токсичности Агентство по охране окружающей среды разработало тест под названием «Процедура определения токсичности выщелачивания» (TCLP), предназначенный для выявления отходов, которые могут привести к выщелачиванию определенных концентраций химических веществ в грунтовые воды. Процедура TCLP (SW 846 Method 1311) моделирует условия, существующие на свалке, когда жидкости просачиваются через твердые отходы, и была разработана с использованием подземной модели судьбы и переноса.Метод TCLP включает в себя определенный список органических и неорганических соединений и включает нормативные уровни для каждого соединения. Федеральные правила использования TCLP можно найти в 40 CFR 261.24.

В дополнение к TCLP, процедура синтетического выщелачивания осадков (SPLP) была разработана для оценки подвижности / выщелачиваемости органических и неорганических компонентов в жидкостях, почвах и отходах в ситуации моно-захоронения под воздействием дождя. SPLP (SW 846 Method 1312) — это испытание на выщелачивание партии, в котором экстракционная жидкость, созданная на основе региона страны, где находится образец, готовится с образцом и предназначена для имитации осадков.

TCLP и SPLP — это тесты на выщелачивание одной партии, которые предоставляют одну точку данных для каждого интересующего компонента. В обеих процедурах экстракционная жидкость, созданная в зависимости от региона страны, где находится образец, готовится с образцом и опускается в герметичный контейнер для имитации естественных условий выщелачивания. После процедуры галтовки образовавшийся фильтрат анализируется на наличие соединений, указанных в нормах. Любой образец, содержащий соединения с концентрациями, превышающими указанные в нормативных документах, считается опасным на основании его характеристик токсичности.

Чем может вам помочь Eurofins TestAmerica?

Чтобы помочь клиентам безопасно управлять отходами, Eurofins TestAmerica предоставляет лабораторные анализы на воспламеняемость, коррозионную активность, реактивность и токсичность и поддерживает различные тесты для оценки возможности выщелачивания органических и неорганических компонентов в окружающую среду. Eurofins TestAmerica предоставляет комплексные услуги по анализу характеристик отходов для широкого спектра матриц экологических отходов из почвы, отложений, нефти и мусора.

Свяжитесь с нами по вкладке Свяжитесь с нами , чтобы получить Дополнительная информация , A sk the Expert или Запросить предложение .

Ссылки на методы для TCLP и SPLP:

SW-846 Метод 1311	Процедура определения токсичности выщелачивания [TCLP]
SW-846 Метод 1312	Процедура выщелачивания синтетических осадков [SPLP]

Штат Калифорния использует TCLP в отношении токсичности и применяет дополнительный набор процедур выщелачивания, как определено в разделах 22 и 26 Свода правил Калифорнии, который называется тест на извлечение отходов [WET].Результаты тестов WET в Калифорнии сравниваются с соответствующими нормативными предельными значениями общих пороговых предельных концентраций (TTLC) и предельных пороговых концентраций растворимых веществ (STLC). Тест WET похож на TCLP, поскольку он имитирует фильтрат со свалки и содержит список неорганических и органических соединений и пороговые значения концентрации. Он отличается от TCLP тем, что использует другое соотношение жидкости и твердого вещества, экстрагент, продолжительность экстракции и различные списки соединений.

Ссылка на метод для WET:

Раздел 22 Свод правил Калифорнии, Приложение II

Процедуры испытания на извлечение отходов [WET]

Eurofins TestAmerica поддерживает дополнительные тесты на выщелачивание, которые включают тесты на выщелачивание, используемые для оценки потенциального воздействия на качество воды, используемые другими программами, штатами или федеральными агентствами.Информацию о следующем поколении тестов на выщелачивание, методах EPA по экологической оценке выщелачивания [LEAF] и других методах выщелачивания, пожалуйста, посетите нашу страницу «Специальные методы выщелачивания».

Eurofins TestAmerica обладает непревзойденными возможностями для поддержки наших клиентов с помощью тестов TCLP, SPLP и WET. Eurofins TestAmerica имеет самый большой в округе инвентарь экстракторов с нулевым свободным пространством и роторных мешалок для экстракции TCLP, что обеспечивает непревзойденную производительность, особенно когда требуется быстрое выполнение анализа характеристик отходов.

Характеристики стабильности биопрепаратов с высоким разрешением — теперь с DLS | Геномические исследования

Адресная строка 1*

Адресная строка 2

Город / Город *

Состояние*

Почтовый индекс / почтовый индекс *

Страна* Пожалуйста, выберите страну…AfghanistanAlbaniaAlgeriaAmerican SamoaAndorraAngolaAnguillaAntarcticaAntigua & BarbudaArgentinaArmeniaArubaAustraliaAustriaAzerbaijanBahamasBahrainBangladeshBarbadosBelarusBelgiumBelizeBeninBermudaBhutanBoliviaBonaire, Синт-Эстатиус и SabaBosnia & HerzegovinaBotswanaBouvet IslandBrazilBritish Индийский океан TerritoryBritish Виргинские IslandsBruneiBulgariaBurkina FasoBurundiCambodiaCameroonCanadaCape VerdeCayman IslandsChadChileChinaChristmas IslandCocos (Килинг) IslandsColombiaComorosCook IslandsCosta RicaCroatiaCubaCuracaoCyprusCzech RepublicDemocratic Республика CongoDenmarkDjiboutiDominicaDominican RepublicEast TimorEcuadorEgyptEl SalvadorEquatorial GuineaEritreaEstoniaEthiopiaFalkland IslandsFaroe IslandsFijiFinlandFranceFrench GuianaFrench PolynesiaFrench Южный TerritoriesGabonGambiaGeorgiaGermanyGhanaGibraltarGreeceGreenlandGrenadaGuadeloupeGuamGuatemalaGuernseyGuineaGuinea-BissauGuyanaHaitiHeard & McDonald IslandsHondurasHong KongHungaryIcelandIndiaIndonesiaIranIraqIre landIsle из ManIsraelItalyIvory CoastJamaicaJapanJerseyJordanKazakhstanKenyaKiribatiKosovoKuwaitKyrgyzstanLaosLatviaLebanonLesothoLiberiaLibyaLiechtensteinLithuaniaLuxembourgMacauMacedoniaMadagascarMalawiMalaysiaMaldivesMaliMaltaMarshall IslandsMartiniqueMauritaniaMauritiusMayotteMexicoMicronesiaMoldovaMonacoMongoliaMontenegroMontserratMoroccoMozambiqueNamibiaNauruNepalNetherlandsNetherlands AntillesNew CaledoniaNew ZealandNicaraguaNigerNigeriaNiueNorfolk IslandNorth KoreaNorthern Марианской IslandsNorwayOmanPakistanPalauPanamaPapua Новый GuineaParaguayPeruPhilippinesPitcairnPolandPortugalPuerto RicoQatarRepublic из CongoReunionRomaniaRussiaRwandaSaint BarthelemySaint HelenaSaint Киттс и NevisSaint LuciaSaint Винсент и GrenadinesSamoaSan MarinoSao Tome & PrincipeSaudi ArabiaSenegalSerbiaSeychellesSierra LeoneSingaporeSint MaartenSlovakiaSloveniaSolomon IslandsSomaliaSouth AfricaSouth Грузия и Южные Сандвичевы IslandsSouth KoreaSouth SudanSpainSri LankaSudanSurinameSvalbard и Ян MayenSwazilandSwedenSwitzerlandSyriaTaiwanTajikistanTanzaniaThailandTogoTokelauTongaTrinidad & TobagoTunisiaTurkeyTurkmenistanTurks & Кайкос IslandsTuvaluUgandaUkraineUnited Арабских EmiratesUnited KingdomUnited StatesUruguayUS Экваторияльного IslandsUS Virgin IslandsUzbekistanVanuatuVatican Город StateVenezuelaVietnamWallis и FutunaWest BankWestern SaharaYemenZambiaZimbabwe

Телефон*

Сообщение Пожалуйста, пришлите мне расценки на определение стабильности биопрепаратов с высоким разрешением — теперь с DLS

Какую информацию вы ищете?

Свяжитесь со мной

Запросить демо / образец

Запросить литературу

Запросить цену

Отправить запрос

Моральный характер

Положительное определение моральных качеств является одним из нескольких требований для допуска к юридической практике в Калифорнии.

Начало работы

Поскольку процесс проверки моральных качеств может занять как минимум шесть месяцев, студенты-юристы должны подавать заявление не позднее начала последнего года обучения на юридическом факультете. Приветствуется ранняя подача документов, чтобы процесс можно было завершить до того, как будут опубликованы результаты конкретного экзамена.

Чтобы начать эту проверку биографических данных, заявители могут подать онлайн-заявку или бумажную заявку, что можно сделать в любое время после регистрации в качестве студента-юриста или кандидата на адвоката.Пожалуйста, внимательно прочтите инструкции перед запуском приложения. Существуют специальные инструкции для адвокатов за пределами штата, а также для тех, кто подает заявку на участие в программе мультиюрисдикционной практики или для того, чтобы стать зарегистрированным иностранным юридическим консультантом.

Обзор приложения

Заявление о моральных качествах представляет собой сборник многих подробностей из жизни заявителя.

Важно, чтобы заявление было правдивым. Государственная коллегия адвокатов и Комитет адвокатов считают откровенность важным фактором при определении того, обладает ли кандидат хорошими моральными качествами, необходимыми для допуска к юридической практике.

Что происходит после подачи?

Сотрудники

государственной коллегии адвокатов рассматривают историю каждого заявителя. С заявителем можно связаться, если первоначальное представление было неполным или если необходима дополнительная информация. Каждая заявка проверяется, чтобы определить, соответствует ли кандидат стандартам хороших моральных качеств. В соответствии с правилами Коллегии адвокатов штата Калифорния (Правила приема), «Хорошие моральные качества» включает в себя, помимо прочего, такие качества, как честность, справедливость, откровенность, надежность, соблюдение фидуциарной ответственности, уважение и послушание закон и уважение прав других лиц и судебного процесса.( Правила приема , Правило 4.40)

В случае, если при рассмотрении заявки выявляется информация, которая вызывает вопросы о том, соответствует ли заявитель стандарту хороших моральных качеств, заявитель может быть приглашен на неформальную конференцию с сотрудниками государственной коллегии адвокатов для обсуждения вопросов.

На обработку заявки и сбор всех документов, необходимых для завершения определения моральных качеств, потребуется несколько месяцев. Чтобы проверить статус своей заявки, войдите на Портал кандидатов.

По вопросам обращайтесь в приемную комиссию по адресу [email protected],
213-765-1500 или 415-538-2300.

Мультимодальная характеристика и многокритериальная оптимизация дизайна природных пористых материалов с ускорением машинного обучения

Природные пористые материалы, такие как нанопористые глины, используются в качестве экологически чистых и недорогих адсорбентов и катализаторов. Ключевыми факторами, определяющими их эффективность в этих применениях, являются морфология пор и поверхностная активность, которые обычно представлены такими свойствами, как удельная площадь поверхности, объем пор, содержание микропор и pH.Последние могут быть модифицированы и адаптированы к конкретным применениям посредством обработки материалов и / или химической обработки. Определение характеристик материала, сырого или обработанного, обычно проводится экспериментально, что может оказаться дорогостоящим, особенно в контексте настройки свойств в соответствии с требованиями конкретного применения и необходимости проведения многочисленных экспериментов. В этой работе мы представляем применение древовидных методов машинного обучения, обученных на экспериментальных наборах данных, для ускорения определения характеристик природных пористых материалов.Полученные модели позволяют надежно прогнозировать результаты экспериментальной характеристики обрабатываемых материалов ( R ² от 0,78 до 0,99), а также определять ключевые факторы, влияющие на эти свойства, посредством анализа важности характеристик. Кроме того, высокая пропускная способность моделей позволяет исследовать корреляции параметров обработки и свойств и многокритериальную оптимизацию материалов прототипов для конкретных приложений. Мы применили эти методологии для определения и рационализации оптимальных условий обработки глин, используемых в кислотном катализе.Один из таких идентифицированных материалов был синтезирован и испытан, обнаружив заметное улучшение кислотных свойств по сравнению с исходным материалом. В частности, при разложении, катализируемом кислотой, удалось удалить 79% хлорофилла- и .

Эта статья в открытом доступе

Подождите, пока мы загрузим ваш контент… Что-то пошло не так. Попробуйте снова?

Применение системной биологии для молекулярной характеристики и диагностики рака

Рак является одной из основных причин смерти людей, и в области исследований были предприняты большие усилия, чтобы понять основные молекулярные механизмы, участвующие в патогенезе и прогрессировании отдельных опухолей, чтобы найти эффективные методы лечения.Однако большинство разработанных к настоящему времени противораковых препаратов …

Рак является одной из основных причин смерти людей, и в области исследований были предприняты большие усилия, чтобы понять основные молекулярные механизмы, участвующие в патогенезе и прогрессировании отдельных опухолей, чтобы найти эффективные методы лечения. Однако большинство разработанных к настоящему времени противораковых препаратов эффективны только в подгруппе пациентов из-за огромной неоднородности, обнаруженной в отдельных опухолях.По-прежнему существуют большие пробелы в нашем понимании оптимальных подходов к лечению и патогенных молекулярных механизмов рака. Кроме того, в диагностических инструментах опухолей по-прежнему преобладают подходы, разработанные много лет назад, которые игнорируют неоднородность у разных пациентов, несмотря на успехи в медицинских исследованиях. Следовательно, существует острая необходимость в разработке молекулярных характеристик и точной диагностики рака.

За последнее десятилетие достижения в области высокопроизводительных технологий резко снизили стоимость создания крупномасштабных многопрофильных наборов данных.Разработка новых омических инструментов (таких как геномика, транскриптомика, протеомика, метаболомика и метагеномика) открыла новые возможности для изучения рака в многопрофильной, высокопроизводительной и общегеномной манере с высокой точностью. Системная биология использует математические и вычислительные подходы для создания моделей в качестве платформ, которые можно использовать для исследования изменений системы путем интеграции наборов данных omics. В этом контексте системная биология вместе с современными мультикомными технологиями может ускорить понимание молекулярных механизмов и появление персонализированной и точной диагностики рака.Цель данной темы исследования — охватить многообещающие, недавние и новые тенденции исследований в области молекулярной характеристики и диагностики рака. Области, которые должны быть охвачены этой Темой исследования, могут включать, но не ограничиваются, систематическую характеристику и разработку биомаркеров для стратификации и / или диагностики подтипов рака или отдельного пациента на основе одного или нескольких профилей.

Ключевые слова : Рак, системная биология, точная медицина, молекулярные подтипы, омические методы

Важное примечание : Все материалы по данной теме исследования должны находиться в рамках того раздела и журнала, в который они были отправлены, как это определено в их заявлениях о миссии.Frontiers оставляет за собой право направить рукопись, выходящую за рамки объема, в более подходящий раздел или журнал на любом этапе рецензирования.

теория и применение в процессе сварки с помощью лазера

1.

Введение

Международная организация по стандартизации (ISO) в сотрудничестве с Международной электротехнической комиссией и проектом EUREKA EUROLASER: определение характеристик оптических компонентов и лазерных лучей ( CHOCLAB), разработала и опубликовала комплексную систему стандартов за последние 30 лет. ¹ Академическое сообщество также активно участвовало в этой работе, предоставляя широкий спектр публикаций, которые охватывают мотивацию и процесс установления норм, связанных с лазерами, ² разработка принципов и инструментов измерения, ³ дебаты по поводу определения характеризующих параметров, ^{4 , 5} и обсуждение процедур испытаний. ⁶ Также сообщалось о практических характеристиках лазерных лучей, ^{7 — 10} и были предложены улучшения стандартов ISO. ^{11 , 12} Кроме того, были исследованы компьютерные алгоритмы и обработка данных для визуализации и определения характеристик лазерных лучей с целью уменьшить зависимость пользователя от стороннего проприетарного программного обеспечения. ^{13 , 14}

Однако ни одна из доступных публикаций не объясняет характеризующие параметры лазерных лучей дидактическим образом, подходящим для новичков в этой области. Эта статья предлагает педагогическое введение в теорию определения характеристик лазерного луча с использованием минимального рабочего примера (MWE), который иллюстрирует, как вычисляется каждое определение ISO.Кроме того, в этой статье представлены характеристики лазерного луча, применяемого в реальном промышленном процессе [процесс соединения с помощью лазера (LAB) в производстве упаковки полупроводников], что поможет читателю понять и интерпретировать результаты определения характеристик.

Мы нацелены на исследователей, плохо знакомых с областью анализа лазерного луча, которые хотят получить базовые знания, а также на более опытных исследователей, которые хотят реализовать собственное программное обеспечение для анализа лазерного луча и предложить новые определения для своего конкретного приложения.Этот документ не следует рассматривать как полный обзор процесса лабораторной лабораторной работы, а также как краткое изложение инструментов и принципов измерения, связанных с профилированием лазерного луча. Они упоминаются исключительно для того, чтобы дать читателю общее представление о том, как собираются и хранятся данные о лазерном луче, а также для того, чтобы представить читателю конкретный пример, который улучшит их понимание.

2.

Обзор процесса

2.1.

Связывание с помощью лазера

LAB — это процесс упаковки полупроводников, в котором лазерный луч выборочно направляется на целевой кристалл с перевернутым кристаллом и / или компонент для поверхностного монтажа в течение менее пары секунд. ^{15 — 20} Взаимодействие между лазерным лучом и целевым устройством увеличивает его температуру, что позволяет металлургически прикрепить его к подложке, переходнику или другому кристаллу. Система LAB (рис. 1) состоит из мощного диодного лазерного источника, оптического волокна, коллиматора и гомогенизатора, который производит лазерный луч с плоским верхом. Читателю рекомендуется обратиться к ссылкам. 2122. – 23 за всестороннее исследование теории и методов формирования лазерного луча, включая то, как формируются лазерные лучи с плоским верхом.Источник лазера работает в непрерывном режиме, в ближнем инфракрасном диапазоне с длиной волны 980 нм и максимальной мощностью 2 кВт. Размер луча составляет от 9 до 45 мм, а фокусное расстояние — 240 мм.

Рис. 1

Обзор LAB. Источник диодного лазера генерирует непрерывный лазерный луч мощностью 2 кВт с длиной волны 980 нм; оптическое волокно соединяет лазерный источник с коллиматором; а гомогенизатор луча производит лазерный луч с плоским верхом. Размер луча составляет от 9 до 45 мм, а фокусное расстояние — 240 мм.

Распределение плотности мощности и пространственные свойства лазерного луча имеют решающее значение для общей надежности процесса LAB (рис. 2). Проблемы с обрывом цепи могут возникать в местах пайки, если некоторые области целевого устройства не получают достаточной энергии лазера. Точно так же проблемы с коротким замыканием могут возникнуть на выступах припоя, если некоторые области целевого устройства получают чрезмерную энергию лазера. В крайних случаях целевое устройство может даже сгореть, повредив электронный компонент и инструменты LAB.Поэтому абсолютно необходимо, чтобы все области целевого устройства получали одинаковое количество лазерной энергии, что обеспечивает равномерное распределение температуры и надежное паяное соединение.

Рис. 2

Проблемы на уровне устройства, связанные с распределением плотности мощности в процессе LAB. Проблемы с разомкнутой цепью связаны с недостаточной мощностью лазера, тогда как проблемы с коротким замыканием связаны с чрезмерной мощностью лазера. В крайнем случае целевое устройство может даже сгореть. На вставке показано увеличенное изображение выпуклости с обрывом цепи, без проблем и с коротким замыканием.

2.2.

Измерительная установка

В данном исследовании использовался инструмент измерения профиля луча BeamMonitor BM + 100 от PRIMES ²⁴ (рис. 3). Он оснащен фотодиодным датчиком DFY-PS с автоматической адаптацией чувствительности в диапазоне длин волн от 400 до 1100 нм. Размер апертуры 100 мм поддерживает максимальный размер измерительного окна 100 мм и максимальный размер луча 70 мм, что охватывает весь диапазон размеров системы LAB и исключает необходимость в дополнительной оптике для уменьшения размера луча.Максимальная удельная мощность 10 кВт / см2 поддерживает максимальную удельную мощность системы LAB и исключает необходимость в дополнительном ослаблении мощности. BeamMonitor BM + 100 используется вместе с водоохлаждаемым отводом лазерного луча.

Рис. 3

BeamMonitor BM + 100 от PRIMES. Вращающийся измерительный наконечник отклоняет часть лазерного луча в схему лазерного детектора. Изображение любезно предоставлено PRIMES GmbH.

Лазерный луч сканируется вращающимся измерительным наконечником, который перемещается по длине отвода лазерного луча.Зеркало, установленное на измерительном наконечнике, отклоняет часть света в схему лазерного детектора, которая оцифровывает электрический сигнал с помощью 16-разрядного аналого-цифрового преобразователя. Количество измеренных линий по длине разгрузки лазерного луча определяет разрешение в пикселях по оси y, а количество точек сканирования на строку определяет разрешение в пикселях по оси x. Максимальное поддерживаемое разрешение в пикселях составляет 1024 × 1024 пикселей, но 128 × 128 пикселей обычно достаточно для высокоточного анализа.Плотность мощности (измеряемая в аналого-цифровых отсчетах на пиксель — ADC / px) в определенной позиции x-y записывается в соответствующем пикселе, а совокупность пикселей дает распределение плотности мощности облучающего лазерного луча (рис. 4). ).

Рис. 4

Распределение плотности мощности плоского лазерного луча в процессе LAB. На вставном изображении показан увеличенный вид правого верхнего угла распределения плотности мощности. Плотность мощности в конкретном пикселе измеряется в АЦП / пикс.

3.

Стандарты ISO

ISO 13694: 2018 ²⁵ и ISO 11145: 2018 ²⁶ — два наиболее важных стандарта, относящихся к процессу LAB; поэтому в данной статье будут обсуждаться только эти две нормы. Однако методы, извлеченные из этой статьи, могут быть легко применены к другим нормам, которые подходят читателю. MWE (рис. 5) используется для иллюстрации того, как вычисляется каждое определение ISO. Читателю предлагается выполнить вычисления шаг за шагом вручную, используя программное обеспечение для электронных таблиц или язык программирования общего назначения.Следующие определения были реализованы с использованием языка программирования Python, и исходный файл и необработанные данные могут быть предоставлены по разумному запросу соответствующему автору. Читателю рекомендуется обратиться к Ref. 25 для получения дополнительной информации об измерительном устройстве, испытательном оборудовании и процедурах, поскольку эти темы не являются предметом внимания данной статьи.

Рис. 5

MWE состоит из простого вымышленного распределения плотности мощности с целью иллюстрации определений ISO 13694: 2018 и ISO 11145: 2018.Он имеет разрешение 7 пикселей × 7 пикселей, а значения каждого пикселя аналогичны значениям на рис. 4.

3.1.

Характеризационные параметры

3.1.1.

Распределение плотности мощности

Распределение плотности мощности ²⁵ E (x, y, z) — это набор всех плотностей мощности в местоположении z для всех координат (x, y). Распределение плотности мощности MWE (рис. 5) представляет собой набор пикселей от 0 до 6 по осям x и y.

3.1.2.

Плотность мощности

Плотность мощности ²⁵ E (xp, yp, z) — плотность мощности в точке z для координаты (xp, yp).Плотность мощности МВЭ (рис. 5) E (2,4, z) = 10.

3.1.3.

Максимальная плотность мощности

Максимальная плотность мощности ²⁵ Emax (z) — это максимум распределения плотности мощности E (x, y, z) в точке z для координаты (xmax, ymax, z). Максимальная плотность мощности МВЭ (рис. 5) составляет Emax (z) = 12 для координат (3, 4) и (4, 3).

3.1.4.

Power

Power ²⁵ P (z) — это сумма плотности мощности E (xp, yp, z) в точке z, оцененная по всем координатам (x, y) распределения плотности мощности E (x, y) , z).P (z) математически определяется как

Eq. (1)

P (z) = ∑x∑yE (x, y, z).

Мощность МВЭ (рис. 5) P (z) = 128.

3.1.5.

Плотность мощности на уровне клипа

Плотность мощности на уровне клипа ²⁵ EηCL (z) — это доля η максимальной плотности мощности Emax (z) в местоположении z. EηCL (z) математически определяется как

Eq. (2)

EηCL (z) = ηEmax (z), где 0≤η <1. Плотность мощности на уровне ограничения MWE (рис. 5) составляет EηCL = 9,60 с учетом уровня ограничения η = 0.80.

3.1.6.

Мощность на уровне клипа

Мощность на уровне клипа ²⁵ Pη (z) — это сумма плотности мощности E (xp, yp, z) в местоположении z, оцениваемая только по местоположениям (x, y), для которых E ( x, y, z)> EηCL (z). Pη (z) математически выражается как

Eq. (3)

Pη (z) = ∑x∑y [E (x, y, z)> EηCL (z)].

Мощность уровня ограничения MWE (рис. 5) равна Pη (z) = 96 с учетом уровня ограничения η = 0,80.

3.1.7.

Дробная мощность

Дробная мощность ²⁵ fη (z) — это доля мощности Pη (z) на уровне отсечки для данного η от полной мощности P (z) в распределении в местоположении z.fη (z) математически выражается как

Eq. (4)

fη (z) = Pη (z) P (z), где 0≤fη (z) ≤1. Дробная мощность MWE (рис. 5) равна fη (z) = 0,75 с учетом уровня ограничения η = 0,80, что означает, что 75% полной мощности имеет значение> 9,60.

3.1.8.

Центроид луча

Центроид луча ²⁶ (x¯ (z), y¯ (z)) — координата момента первого порядка распределения плотности мощности E (x, y, z) в точке z. (x¯ (z), y¯ (z)) математически определяется как

Eq.(5)

x¯ (z) = ∑x∑yx · E (x, y, z) ∑x∑yE (x, y, z),

Ур. (6)

y¯ (z) = ∑x∑yy · E (x, y, z) ∑x∑yE (x, y, z), где знаменатели и знаменатели являются моментом первого порядка и нулевым момент порядка распределения соответственно.

Момент первого порядка (рис.6) вычисляет значение каждого пикселя, взвешенное по его соответствующему индексу столбца (если момент вычисляется относительно оси x) и по его соответствующему индексу строки (если момент вычисляется относительно оси y ). Например, момент первого порядка по оси x вычисляется путем умножения значений каждого пикселя в первом столбце (индекс 0) на 0, во втором столбце (индекс 1) на 1, в третьем столбце (индекс 2 ) на 2 и так далее [Рис.6 (а)]. Точно так же момент первого порядка по оси y вычисляется путем умножения значений каждого пикселя в первой строке (индекс 0) на 0, во второй строке (индекс 1) на 1, в третьей строке (индекс 2). на 2 и так далее [Рис. 6 (б)]. Впоследствии добавляются значения каждого пикселя. Центроид пучка MWE (рис. 5) равен x¯ (z) = 3 и y¯ (z) = 3.

Рис. 6

Визуальное объяснение момента первого порядка. (a) Момент первого порядка по оси x вычисляется путем умножения значений каждого пикселя в исходном распределении плотности мощности на его соответствующий индекс столбца.(b) Момент первого порядка по оси y вычисляется путем умножения значений каждого пикселя в исходном распределении плотности мощности на его соответствующий индекс строки.

3.1.9.

Стабильность положения луча

Стабильность положения луча ²⁶ (Δx (z), Δy (z)) в четыре раза превышает стандартное отклонение измеренного позиционного перемещения луча в точке z. (Δx (z), Δy (z)) математически выражается как

Eq. (7)

Δx (z) = 4∑i = 1N [x¯ (z) i − x¯ (z) ¯] 2N − 1,

Ур.(8)

Δy (z) = 4∑i = 1N [y¯ (z) i − y¯ (z) ¯] 2N − 1, где (x¯ (z), y¯ (z)) i — Центроид пучка i в точке z, (x‾ (z) ‾, y‾ (z) ‾) — это средний центроид пучка в точке z, а N — количество измерений. Поскольку MWE (рис. 5) состоит из одного измерения, невозможно рассчитать стабильность положения его пучка.

3.1.10.

Ширина луча

Ширина луча ²⁶ (dσx (z), dσy (z)) в четыре раза больше квадратного корня из момента второго порядка распределения плотности мощности E (x, y, z) вокруг луча центроид (x¯ (z), y¯ (z)) в точке z.(dσx (z), dσy (z)) математически выражается как

Eq. (9)

dσx (z) = 4∑x∑y [x − x¯ (z)] 2 · E (x, y, z) ∑x∑yE (x, y, z),

Ур. (10)

dσy (z) = 4∑x∑y [y − y¯ (z)] 2 · E (x, y, z) ∑x∑yE (x, y, z), где номинаторы и знаменатели — момент второго порядка и момент нулевого порядка распределения соответственно.

Момент второго порядка (рис.7) вычисляет значение каждого пикселя, взвешенное квадратом расстояния от соответствующего индекса столбца до центроида x луча (если момент вычисляется относительно оси x) и квадратом расстояние от соответствующего индекса строки до центроида y балки (если момент вычисляется относительно оси y).Например, момент второго порядка относительно оси x вычисляется путем умножения значений каждого пикселя в первом столбце (индекс 0) на (0-3) 2 = 9, во втором столбце (индекс 1) на (1 −3) 2 = 4, в третьем столбце (индекс 2) на (2−3) 2 = 1 и так далее [Рис. 7 (а)]. Точно так же момент второго порядка относительно оси y вычисляется путем умножения значений каждого пикселя в первой строке (индекс 0) на (0-3) 2 = 9, во второй строке (индекс 1) на (1- 3) 2 = 4, в третьей строке (индекс 2) через (2−3) 2 = 1 и так далее [Рис.7 (б)]. Впоследствии добавляются значения каждого пикселя. Ширина боба MWE (рис. 5) составляет dσx (z) = 4,36 и dσy (z) = 4,34.

Рис. 7

Визуальное объяснение момента второго порядка. (a) Момент второго порядка относительно оси x вычисляется путем умножения значений каждого пикселя в исходном распределении плотности мощности на квадрат расстояния от соответствующего индекса столбца до центроида x луча. (b) Момент второго порядка относительно оси y вычисляется путем умножения значений каждого пикселя в исходном распределении плотности мощности на квадрат расстояния от соответствующего индекса строки до центроида y луча.

3.1.11.

Соотношение сторон луча

Соотношение сторон луча ²⁶ ε (z) количественно определяет прямоугольность распределения плотности мощности E (x, y, z) в местоположении z. ε (z) математически определяется как

Eq. (11)

ε (z) = dσy (z) dσx (z).

Соотношение сторон луча MWE (рис. 5) составляет ε (z) = 0,99, что предполагает довольно квадратную форму.

3.1.12.

Площадь облучения на уровне клипа

Площадь облучения на уровне клипа ²⁵ Aηi (z) — это площадь облучения в точке z, для которой плотность мощности E (xp, yp, z) превышает плотность мощности на уровне клипа EηCL (z).Aηi (z) математически выражается как

Eq. (12)

Aηi (z) = COUNT [E (x, y, z)> EηCL (z)], где COUNT — это функция, которая подсчитывает, сколько пикселей имеют значение больше, чем плотность мощности на уровне клипа EηCL (z ). Площадь облучения на уровне клипа MWE (рис. 5) составляет Aηi (z) = 9 с учетом уровня клипа η = 0,80.

3.1.13.

Средняя плотность мощности на уровне клипа

Средняя плотность мощности на уровне клипа ²⁵ Eηave (z) — это пространственно усредненная плотность мощности распределения в местоположении z.Eηave (z) математически определяется как

Eq. (13)

Eηave (z) = Pη (z) Aηi (z).

Средняя плотность мощности MWE на уровне ограничения (рис. 5) составляет Eηave (z) = 10,67 с учетом уровня ограничения η = 0,80.

3.1.14.

Коэффициент плоскостности

Коэффициент плоскостности ²⁵ Fη (z) — это отношение средней плотности мощности Eηave (z) на уровне ограничения мощности к максимальной плотности мощности распределения Emax (z) в местоположении z. Fη (z) математически определяется как

Eq. (14)

Fη (z) = Eηave (z) Emax (z), где 0 3.1.15.

Равномерность луча

Равномерность луча ²⁵ Uη (z) — нормированное среднеквадратичное отклонение распределения плотности мощности E (x, y, z) от его средней плотности мощности Eηave (z) на уровне отсечки в точке z . Математически Uη (z) выражается как

Eq. (15)

Uη (z) = 1Eηave (z) 1Aηi (z) ∑x∑y [E (x, y, z) −Eηave (z)] 2, где Uη (z) = 0 указывает на полностью равномерное распределение имеющий профиль с плоской вершиной и вертикальными краями.Выражение [E (x, y, z) −Eηave (z)] 2 вычисляется попиксельно (рис. 8), а двойная сумма выполняется только для пикселей, исходное значение которых больше, чем плотность мощности на уровне клипа EηCL. (z). Равномерность луча MWE (рис. 5) составляет Uη (z) = 0,076 с учетом уровня отсечки η = 0,80, что указывает на однородность 7,6% среднеквадратичного значения от его среднего значения в точке z.

Рис. 8

Визуальное объяснение одного из шагов для расчета однородности луча. Выражение [E (x, y, z) -Eηave (z)] 2 для пикселя (0,6) равно [0-10.67] 2 = 144, приблизительно. Аналогично для пикселя (1, 5) выражение приблизительно равно [2−10,67] 2 = 75. Двойная сумма дает 6,00.

3.1.16.

Равномерность плато

Равномерность плато ²⁵ Up (z) — это количественная мера однородности профилей с почти плоской вершиной. Up (z) математически выражается как

Eq. (16)

Up (z) = ΔEFWHW (z) Emax (z), где 0 Рис. 9

Гистограмма распределения плотности мощности на Рис. 4. Гистограмма разделена на 256 интервалов, поскольку распределение плотности мощности на Рис. 4 имеет в общей сложности 65 536 точек данных. На вставленном изображении показан подробный вид пика гистограммы около Emax (z), соответствие нормальной смеси 3 и визуальное объяснение FWHM.

3.1.17.

Крутизна кромки

Крутизна кромки ²⁵ Sε, η (z) — нормализованная разница между областями облучения на уровне клипа Aεi (z) и Aηi (z). Sε, η (z) математически определяется как

Eq. (17)

Sε, η (z) = Aεi (z) −Aηi (z) Aεi (z), где 0 3.2.

Коррекция шума

Известно, что фоновый шум и базовая линия дигитайзера отрицательно влияют на достоверность анализа пучка в специальных расчетах, которые включают взвешенные интегральные суммы, такие как мощность и момент первого и второго порядка. ^{7 , 8} Следовательно, перед проведением анализа лазерного луча необходимо применить метод коррекции шума. ISO 13649: 2018 ²⁵ определяет два метода коррекции фонового шума на основе темного поля измерительного инструмента, то есть распределения плотности мощности при закрытом затворе лазера.Первый метод, вычитание фоновой карты, состоит из записи карты темного поля детектора и вычитания ее пикселя за пикселем из распределения плотности мощности. Второй метод, вычитание средней фоновой карты, состоит из записи карты темного поля детектора и вычитания среднего значения из распределения плотности мощности.

Apte и Gower ⁷ представили метод, отличный от ISO, который состоит из анализа гистограммы распределения плотности мощности и вычитания наиболее часто встречающегося значения из распределения плотности мощности (153 ADC / px на рис.9). В этом случае коэффициент заполнения — отношение размера луча к размеру окна измерения — должен находиться в пределах от 0,35 до 0,70 для облегчения определения количества фона. BeamMonitor BM + 100 от PRIMES использует этот метод.

4.

Результаты и обсуждение

Размер окна измерения и разрешение в пикселях, использованные в этом исследовании, составляют соответственно 35,1 мм × 35,1 мм и 256 пикселей × 256 пикселей. Лазерный луч мощностью 700 Вт с плоским верхом попадал на прибор для измерения профиля луча, и распределение плотности мощности регистрировалось 10 раз подряд (рис.10). Метод коррекции шума, основанный на анализе гистограммы, применялся к каждому из 10 измерений, как описано в разд. 3.2. Характерные параметры, обсуждаемые в гл. 3.1 были проанализированы с использованием языка программирования Python. Результаты с учетом ε = 0,10 и η = 0,80 приведены в таблице 1 в соответствии с их категорией.

Рис. 10

Измеренное распределение плотности мощности лазерного луча с плоским верхом мощностью 700 Вт в процессе лабораторной лабораторной работы: (a) 2D контурный график с одномерными срезами вдоль оси x (вверху) и оси y (справа) и (б) Трехмерный контурный график.

Таблица 1

ISO 13694: 2018 и ISO 11145: 2018, характеризующие параметры лазерного луча с плоским верхом мощностью 700 Вт в системе LAB, измеренные 10 раз подряд. Уровень клипа ε = 0,10 и η = 0,80.

z

Характеризующий параметр	Обозначение	Среднее значение	Стандартное отклонение (%)
Мощность луча
Мощность	P (z)	28,576,928551	28,576,928551 ADC7 -уровневая мощность	Pη (z)	26,175,447.0917 ADC	0,2915
Плотность мощности луча
Максимальная плотность мощности	Emax (z)	1,414,4310 ADC / px	0,4033
Плотность мощности на уровне клипа	EηCL )	1,131,5448 АЦП / пикс.	0,4033
Средняя плотность мощности на уровне клипа	Eηave (z)	1,236,7589 АЦП / пикс.	0,1895
Максимальное положение луча
xmax	128.5000 пикселей	57,0124
	ymax	199,9000 пикселей	0,1582
Центр тяжести луча	x ¯ (z)	128,6000 пикселей	0,4016
	y 127,0000 пикселей	0,0000
Позиционная стабильность луча	Δx (z)	2,0656 пикселей	—
	Δy (z)	0,0000 пикселей	—
Эффективный размер луча
Ширина луча	dσx (z)	176.7869 пикс.	0,0555
	dσy (z)	177,7578 пикс.	0,0685
Зона облучения на уровне клипа	Aεi (z)	24,653,8000 пикс. z)	21 164,6000 px	0,3165
Форма луча
Соотношение сторон луча	ε (z)	1,0055	0,0615
Дробная мощность	f 0.9160	0,2823
Фактор плоскостности	Fη (z)	0,8744	0,2464
Равномерность луча	Uη (z)	0,0219	1,7521
0,0219	1,7521
	z)	0,0284	8,0454
Крутизна кромки	Sε, η (z)	0,1415	3,1772

4.1.

Преобразование единиц

4.1.1.

Единица измерения мощности

Единица измерения мощности может быть преобразована из АЦП в Вт путем корреляции расчетной мощности P (z) (28 576 928,9160 АЦП) с выходной мощностью лазера. Поскольку вся оптическая система имеет потери около 5%, выходную мощность лазера следует проверять с помощью калиброванного измерителя мощности. Измеритель мощности, используемый в этом исследовании, представляет собой PowerMax-Pro HP от Coherent. Он оснащен тонкопленочным детектором с погрешностью калибровки ± 2% на длине волны 810 нм, точностью спектральной компенсации ± 5%, линейностью мощности ± 2% и пространственной однородностью ± 5%.

Выходная мощность лазера была измерена три раза подряд, и среднее значение было подтверждено как 700 Вт. Следовательно, коэффициент преобразования мощности составляет 700 Вт 28 576 928,9160 АЦП = 2,4495 × 10-5 WADC.

4.1.2.

Единица измерения длины

Единица измерения длины может быть преобразована из пикселей в мм путем соотнесения разрешения в пикселях (256 пикселей × 256 пикселей) с размером окна измерения (35,1 мм × 35,1 мм). Коэффициент пересчета длины 35,1 мм 256 пикселей = 0.1371 мегапикселей.

4.1.3.

Единица измерения плотности мощности

Единица измерения плотности мощности может быть преобразована из ADCpx в Wmm2 путем объединения коэффициентов преобразования мощности и длины. Коэффициент преобразования плотности мощности равен: 2,4495 × 10-5 WADC ÷ (0,1371 мм · x) 2 = 0,0013 WADCpx2мм2.

4.2.

Характеризационные параметры

4.2.1.

Мощность луча

Мощность P (z) имеет среднее значение 700 Вт со стандартным отклонением 0.1796%, а мощность на уровне ограничения Pη (z) имеет среднее значение 641,17 Вт со стандартным отклонением 0,2915% с учетом уровня ограничения η = 0,80.

4.2.2.

Плотность мощности луча

Максимальная плотность мощности Emax (z) имеет среднее значение 1,8387 Вт · мм2 со стандартным отклонением 0,4033%, плотность мощности на уровне отсечки EηCL (z) имеет среднее значение 1,4710 Вт · мм2 со стандартом отклонение составляет 0,4033%, а средняя плотность мощности на уровне ограничения Eηave имеет среднее значение 1.6079 Вт / мм2 со стандартным отклонением 0,1895%.

4.2.3.

Положение луча

Координата максимума (xmax, ymax, z) имеет среднее значение (17,6173 мм, 27,4063 мм) со стандартным отклонением (57,0124%, 0,1582%). Сильное изменение координаты x можно объяснить, взглянув на координату каждого отдельного измерения (таблица 2). Ясно, что одна половина измерений сосредоточена на отметке 8,0889 мм, а другая половина — на отметке 27.1458 мм. С учетом каждой отдельной группы новое стандартное отклонение составляет 0,0000% для группы 8,0889 пикселей и 0,3571% для группы 27,1458 мм. Центроид луча (x¯ (z), y¯ (z)) расположен в координате (17,6311 мм, 17,4117 мм) с позиционной стабильностью луча (Δx (z), Δy (z)) (0,2832 мм, 0,0000 мм).

Таблица 2

Координата максимума в точке z для каждого отдельного измерения.

Измерение	Координата x (мм)	Координата y (мм)
1	8.0889	27.4200
2	8.0889	27.4200
3	8.0889	27.4200
4	8.0889	27.420055
6	27.0087	27.4200
7	27.1458	27.4200
8	27.1458	27.4200
9	27,1458	27,4200
10	27,2829	27,4200

4.2.4.

Эффективный размер луча

Ширина луча (dσx (z), dσy (z)) имеет среднее значение (24,2375 мм, 24,3706 мм) со стандартным отклонением (0,0555%, 0,0685%) [Рис. 11 (а)]. Площади облучения на уровне клипа Aεi (z) и Aηi (z) имеют среднее значение 463,4029 мм2 и 397,8185 мм2, соответственно, с соответствующим стандартным отклонением 0.2351% и 0,3165%.

Рис. 11

Определение ширины луча и устойчивость процесса LAB. (а) Ширина луча dσx (z) имеет среднее значение 24,2375 мм. (b) Пример матрицы размером 13,00 мм × 13,00 мм и шириной луча dσx (z) тех же размеров. На выступы припоя на периферии поступает недостаточная энергия лазера, что может привести к обрыву цепи. (c) Ширина луча dηx (z) имеет среднее значение 19,9557 мм, что на 17,67% меньше, чем dσx (z). (d) Пример матрицы размером 13,00 мм × 13.00 мм и шириной балки dηx (z) тех же размеров. На выступы припоя на периферии поступает достаточная энергия лазера, что снижает риск возникновения проблем с обрывом цепи.

Одним из сильных преимуществ процесса LAB является возможность избирательного нагрева, при котором только целевое устройство и его непосредственное окружение облучаются лазерным лучом. На практике это достигается путем установки размера луча, соответствующего размерам целевого устройства. Однако определение размера пучка, как описано в разд.3.1.10 ²⁶ может представлять угрозу для устойчивости процесса LAB, поскольку края целевого устройства могут получать недостаточное количество лазерной мощности, как обсуждается в разд. 1. Чтобы получить эту точку, рассмотрим матрицу размером 13,00 мм × 13,00 мм и ширину луча тех же размеров, как определено уравнениями. (9) и (10) [Рис. 11 (б)]. Очевидно, что такая компоновка имеет высокую вероятность возникновения проблем с обрывом цепи на периферийных выступах припоя, поскольку края целевого устройства не получают достаточной энергии лазера.

На этом этапе читатель может понять, что иногда стандарты ISO не применяются к их конкретному применению, и что могут быть предложены новые определения, соответствующие их потребностям. В этом смысле мы предлагаем новое определение ширины луча, которое позволяет избежать этой проблемы за счет объединения концепций ширины луча и плотности мощности на уровне ограничения — ширины луча на уровне ограничения (dηx (z), dηy (z)). Ширина луча на уровне ограничения вычисляется с учетом только смежных пикселей, значения которых больше EηCL (z). Используя это определение, ширина луча имеет среднее значение (19.9557 мм, 19,9288 мм) со стандартным отклонением (0,3365%, 0,0552%) [рис. 11 (с)]. Еще раз рассмотрим матрицу размером 13,00 мм × 13,00 мм и шириной луча тех же размеров, но на этот раз определяемой шириной луча на уровне зажима [Рис. 11 (d)]. При таком подходе можно быть уверенным, что вся область целевого устройства получает достаточное количество энергии лазера и обеспечивается надежное соединение припоя. См. Приложение A для получения полного определения (dηx (z), dηy (z)).

4.2.5.

Форма луча

Коэффициент формы луча ε (z) имеет среднее значение 1.0055, что вполне ожидаемо, поскольку лазерный луч имеет квадратную форму. Дробная мощность fη (z) имеет среднее значение 0,9160, что указывает на то, что 91,60% полной мощности P (z) имеет значение, превышающее мощность Pη (z) на уровне ограничения. Коэффициент плоскостности Fη (z) имеет среднее значение 0,8744, что всего на 12,56% меньше, чем распределение плотности мощности с идеально плоской вершиной. Равномерность луча Uη (z) имеет среднее значение 0,0219, что представляет собой отклонение всего лишь на ± 2,19% среднеквадратического значения от средней плотности мощности Eηave (z) на уровне отсечки.Равномерность плато Up (z) имеет среднее значение 0,0284, что всего на 2,84 процентных пункта выше, чем распределение плотности мощности с идеально плоской вершиной. Крутизна края Sε, η (z) имеет среднее значение 0,1415, что указывает на распределение плотности мощности с довольно вертикальными краями.

В процессе лабораторной лабораторной работы важно понимать влияние, которое лазерное излучение на целевое устройство оказывает на его соседние компоненты. Ожидается, что это влияние станет более критичным по мере увеличения количества устройств на подложке и уменьшения зазора между ними.Следовательно, важно количественно определить запретную зону, за пределами которой лазерный луч оказывает незначительное воздействие, а устройства защищены от нежелательного лазерного излучения. Поскольку крутизна кромки Sε, η (z) не дает прямого объяснения по этому поводу, мы предлагаем новое определение — ширину кромки на уровне клипа. Здесь читатель снова может оценить возможность предложения новых определений, которые лучше подходят для их конкретного применения. Ширина края на уровне клипа (dεηx (z), dεηy (z)) вычисляется с учетом смежных пикселей, значения которых находятся между EεCL (z) и EηCL (z) (рис.12). Используя это определение, ширина кромки имеет среднее значение (0,7514 мм, 0,8556 мм) со стандартным отклонением (7,5791%, 0,3823%). См. Приложение B для получения полного определения (dεηx (z), dεηy (z)).

Рис. 12

Определение ширины кромки на уровне клипа. Ширина кромки dεηx (z) имеет среднее значение 0,7514 мм со стандартным отклонением 7,5791%.

5.

Выводы

В этой статье мы представили дидактическое введение в теорию определения характеристик лазерного луча и ее применение в лабораторных условиях.Как указано в разд. 1, этот документ не следует рассматривать как полный обзор процесса лабораторной лабораторной работы, прибора для профилирования пучка и принципа измерения. Они упоминаются только для того, чтобы читатель мог усвоить материал. В этом документе были изучены два стандарта ISO, а именно ISO 13694: 2018 и ISO 11145: 2018. Их характерные параметры были представлены, определены математически и подробно объяснены с помощью MWE. Читателю было предложено выполнить расчеты шаг за шагом, чтобы проверить результаты.

Обсуждались негативные эффекты фонового шума и базовой линии дигитайзера на достоверность анализа пучка в специальных расчетах, включающих взвешенные интегральные суммы. Были представлены три метода коррекции фонового шума, один из которых необходимо применить до проведения анализа лазерного луча. Кроме того, было рассмотрено преобразование единиц мощности (АЦП и Вт), длины (пиксели и мм) и плотности мощности (АЦП / пиксель и Вт / мм2). Следует подчеркнуть, что преобразование единиц допустимо только тогда, когда выходная мощность лазера проверяется независимым измерительным инструментом, например измерителем мощности.

Средние результаты 10 измерений показали, что лазерная система имеет исключительно согласованное распределение плотности мощности, о чем свидетельствует низкое стандартное отклонение почти всех характеризующих параметров. Кроме того, были предложены два новых характеризующих параметра, которые лучше подходят для LAB-процесса, а именно ширина луча на уровне клипа и ширина края на уровне клипа. Это предложение следует рассматривать как указание на то, что исследователи могут и часто должны полностью понимать стандарты ISO и предлагать новые определения, которые лучше подходят для их применения, вместо того, чтобы просто полагаться на стороннее проприетарное программное обеспечение для анализа пучка.

Хотя в этом документе рассматриваются только два стандарта ISO, методы, извлеченные из этого документа, могут быть легко применены к другим нормам, которые подходят для применения читателем. Исходный файл Python, содержащий реализацию всех обсуждаемых определений ISO, а также необработанные данные лазерного луча, может быть предоставлен по разумному запросу соответствующему автору.

6.

Приложение A: Предложение 1 — Ширина луча на уровне клипа

Ширина луча на уровне клипа (dηx (z), dηy (z)) — это ширина облучения в точке z, для которой плотность мощности E (xp , yp, z) превышает плотность мощности на уровне отсечки EηCL (z).(dηx (z), dηy (z)) математически выражается как

Eq. (18)

dηx (z) = COUNT [E (x, yp, z)> EηCL (z)],

Ур. (19)

dηy (z) = COUNT [E (xp, y, z)> EηCL (z)], где COUNT — это функция, которая подсчитывает, сколько пикселей имеют значение больше, чем плотность мощности на уровне клипа EηCL (z ). Ширина луча на уровне отсечки вокруг оси x вычисляется путем итерации по индексам строк [Рис. 13 (a)], а ширина луча на уровне отсечки вокруг оси y вычисляется путем итерации по индексам столбцов [Рис. 13 (б)]. Затем результаты для каждой оси усредняются без учета нулей и любых возможных выбросов.Рекомендуется использование высокого разрешения пикселей, чтобы избежать ошибок квантования, которые могут возникнуть при подсчете пикселей. Ширина луча на уровне клипа MWE (рис. 5) равна dηx (z) = 3 и dηy (z) = 3 с учетом уровня клипа η = 0,80.

Рис. 13

Визуальное объяснение ширины луча на уровне зажима. (a) Ширина луча на уровне отсечки вокруг оси x вычисляется путем итерации по индексам строк. Затем ненулевые значения усредняются без учета возможных выбросов. (b) Ширина луча на уровне отсечки по оси y вычисляется путем итерации по индексам столбцов.Затем ненулевые значения усредняются без учета возможных выбросов.

7.

Приложение B: Предложение 2 — Ширина края на уровне клипа

Ширина края на уровне клипа (dεηx (z), dεηy (z)) — это ширина облучения в точке z, для которой плотность мощности E (xp , yp, z) заключен в плотности мощности EεCL (z) и EηCL (z). (dεηx (z), dεηy (z)) математически определяется как

Eq. (20)

dεηx (z) = COUNT [EεCL (z) Ур. (21) dεηy (z) = COUNT [EεCL (z) Рис. 14

Визуальное объяснение ширины кромки на уровне зажима. (a) Ширина края на уровне клипа вокруг оси x вычисляется путем итерации по индексам строк. Ненулевые значения усредняются без учета возможных выбросов, а полученное значение делится на два. (b) Край пучка на уровне отсечки по оси y вычисляется путем итерации по индексам столбцов.Ненулевые значения усредняются без учета возможных выбросов, а полученное значение делится на два.

Благодарности

Авторы хотели бы выразить свою искреннюю благодарность корейскому отделу исследований и разработок JCET, которые поделились ценными идеями для лучшего развития этого проекта.

Ссылки

7.

П. Апте и М. К. Гауэр, «Практическая реализация методов испытаний для определения характеристик мощности лазерного луча и распределения плотности энергии», Proc.SPIE, 2870 40 –49 (1996). https://doi.org/10.1117/12.259928 PSISDG 0277-786X Google Scholar

15.

Y. Jung et al., «Разработка технологии межсоединений flip-chip следующего поколения с использованием гомогенизированного соединения с помощью лазера», в IEEE 66th Electron. Комп. и Technol. Конф., 88 –94 (2016). https://doi.org/10.1109/ECTC.2016.76 Google Scholar

21.

Ф. М. Дики, Формирование лазерного луча: теория и методы, CRC Press (2018).Google ученый

23.

Дж. А. Хоффнагл и К. М. Джефферсон, «Дизайн и характеристики преломляющей оптической системы, которая преобразует гауссовский луч в пучок с плоским верхом», Прил. Опт., 39 (30), 5488 –5499 (2000). https://doi.org/10.1364/AO.39.005488 APOPAI 0003-6935 Google Scholar

25.

«Оптика и фотоника — лазеры и связанное с ними оборудование — методы тестирования распределения плотности мощности (энергии) лазерного луча», (2018).Google ученый

26.

«Оптика и фотоника — лазеры и связанное с ними оборудование — словарь и символы», (2018). Google ученый

Биография

Вагно Алвес Браганса получил степень бакалавра электротехники с акцентом на микроэлектронику в Федеральном университете Минас-Жерайс, Белу-Оризонти, Бразилия, в 2016 г.